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올해 3분기 시스템온칩(SoC·System on Chip) 번인 테스트 도입도 추진하고 있다. 번인 테스트는 고온의 스트레스 테스트로 초기 불량의 가능성이 있는 칩을 미리 선별해 칩의 초기 불량률을 낮춰주는 역할을 한다. 사람의 생명과 밀접하게 관련된 자율주행 차량 등에 적용되는 하이엔드 전장용 칩에 해당 테스트가 필수적으로 적용된다.
아이텍은 현재 공격적인 장비 도입을 통해 테스트 수량을 늘려 매출 확대 및 시장 점유율 확보를 빠르게 진행할 계획이다. 테스트 하우스가 없는 일본 시장도 개척을 위해 현지 네트워크 강화에도 집중하고 있다.
아이텍 관계자는 “올해 하반기 이후 생산 장비 추가 도입은 국내는 물론 일본 등 해외시장 진출 확대의 발판이 될 것”이라며 “이를 통해 매출 성장과 함께 글로벌 반도체 테스트 하우스로 거듭날 것”이라고 말했다.
